Chargé de génération de prospects pour semi-conducteurs et microélectronique, sur Microsoft Power BI

Des plaques de silicium qui traversent des centaines d'étapes en salle blanche pendant des semaines : un écart de quelques nanomètres se voit au rendement, bien après l'étape fautive.

Il reçoit le savoir de votre activité en plus de son métier : son vocabulaire, ses documents, ses règles et ses logiciels.

Ce qu'il fait chaque jour

Définir la cible de la listeÉcrire les critères attendus, le volume visé et l'usage prévu avant toute collecte de données.
Identifier les sources utilisablesRetenir les sources dont l'origine et la licéité sont établies, et écarter les autres par écrit.
Constituer la listeRassembler les contacts en portant sur chaque ligne sa source, sa date et sa base de contact.
Dédoublonner et exclureRetirer doublons, clients existants, comptes en litige et contacts inscrits en opposition.
Vérifier les coordonnéesContrôler la validité des adresses et des numéros et retirer ce qui ne passe pas le contrôle.
Documenter la base légaleÉcrire le fondement du traitement pour chaque source utilisée et le joindre à la liste livrée.
Livrer la liste aux équipesTransmettre la liste contrôlée avec ses sources, ses exclusions et sa documentation.
Mesurer le rendement des sourcesRapporter réponses et rendez-vous à la source d'origine et proposer d'écarter ce qui ne produit rien. Dans Microsoft Power BI.

Le savoir de votre activité qu'il reçoit

Ce que connaît, en plus de son métier, un collaborateur réglé sur semi-conducteurs et microélectronique.

Vocabulaire

Plaque: Le disque de silicium de 200 ou 300 mm sur lequel sont fabriquées des centaines de puces.
Recette: Le jeu de paramètres d'un équipement pour une étape, qualifié et verrouillé.
Test sous pointes: Le test électrique des puces sur la plaque, qui donne le rendement et la carte des défauts.
Rendement: La part des puces bonnes sur la plaque, indicateur principal de la fabrication.
Défectivité: Les particules et défauts relevés en ligne par inspection optique.
Maîtrise statistique: La surveillance des paramètres par cartes de contrôle et règles de lecture.

Documents

Spécification d'étape: Elle fixe cibles, limites et méthodes de contrôle de chaque étape.
Dossier de qualification: Il prouve qu'une modification ne dégrade ni le produit ni le rendement.
Rapport d'excursion: Il décrit une perte de rendement, sa cause, ses lots touchés et son coût.
Plan de contrôle: Il dit quelles mesures sont faites à quelle étape et sur quel échantillon.

Règles

Aucune recette ni limite de contrôle ne change sans qualification et revue de changement.

Un lot hors spécification attend une décision écrite avant de continuer.

Les recettes et données de procédé ne sortent jamais de l'entreprise.

Spécificités

Plaque démarrée par semaine: La capacité de l'usine et l'unité des lancements.
Nanomètre: L'unité des dimensions critiques et des épaisseurs contrôlées.
Défaut par centimètre carré: La densité de défauts qui pilote le rendement aléatoire.
Les clients concepteurs de puces: Ils attendent volumes, rendement et qualification de chaque changement de procédé.
Les fournisseurs d'équipements et de consommables: Ils interviennent sous contrat et doivent faire qualifier toute modification.
La production en salle blanche: Elle fait tourner les équipements jour et nuit et signale les alarmes.
La qualité: Elle tient les revues de changement et les réclamations clients.; Les cartes de contrôle se lisent à chaque poste et chaque matin en revue.; Les revues de changement se tiennent chaque semaine avant toute modification en production.; Le rendement et ses pertes se décomposent chaque mois par produit.